(Si+Fe)0.45%   Cu0.1％   Mn 0.1%  Mg2.2-2.8%   ZnCr0.15-0.35%  Zn0.1%

材料微觀分析及性能測(cè)試專業(yè)服務(wù)

Materials Micro-analytical Characterization and Testing Services（M2CTS）

    我們是香港城市大學(xué)研究院（深圳）有限公司材料微觀分析及性能測(cè)試專業(yè)服務(wù)中心。本中心依托香港城市大學(xué)物理及材料科學(xué)系雄厚的科研實(shí)力、先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備、高素質(zhì)的客戶工程師，致力于竭誠(chéng)為廣大工業(yè)客戶提供優(yōu)質(zhì)的材料微觀分析與性能測(cè)試專業(yè)服務(wù)，從而推動(dòng)大學(xué)科研機(jī)構(gòu)與內(nèi)地工業(yè)廠商之間的交流與合作。以下是本中心實(shí)驗(yàn)室主要儀器的簡(jiǎn)單介紹：

一、金相實(shí)驗(yàn)室：

擁有圖象分析儀、萊卡DM/RM顯微鏡附CCD數(shù)碼照相裝置、奧林巴斯SZX-12體視顯微鏡。可直觀檢測(cè)金屬材料的微觀組織，從而判斷材質(zhì)優(yōu)劣或者進(jìn)行晶粒度、夾雜物及形態(tài)等分析。

二、電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)室

•掃描電子顯微鏡(附電子探針) (JEOL JSM5200，JEOL JSM820，JEOL JSM6335)

放大倍率：10X—300,000X；樣品尺寸：0.1mm—10cm；分辯率:1—50nm。

1）可進(jìn)行各種固體材料樣品表面形貌及組織結(jié)構(gòu)的分析，進(jìn)行相變、斷烈等動(dòng)態(tài)變化過程的觀察。

2）可進(jìn)行樣品表面的微區(qū)選點(diǎn)分析（包括點(diǎn)分析，線分析和面分析）；深度分析，化學(xué)價(jià)態(tài)分析。

•透射電子顯微鏡（菲利蒲CM-20,CM-200）

可對(duì)各種固體材料進(jìn)行顯微形貌、電子衍射、化學(xué)成份分析、斷裂分析、微區(qū)成分分析、失效分析、薄膜表面科學(xué)分析、納米材料粒徑分布及形狀分析、化學(xué)材料切片分析、化學(xué)材料結(jié)構(gòu)復(fù)型分析等。

三、X射線衍射實(shí)驗(yàn)室

擁有XRD-Siemens500—衍射儀、XRD-Philips X’Pert MRD—衍射儀、XRD-Bruker—衍射儀、能量散射X-射線熒光光譜儀(EDXRF)等。

可進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定、物相分析、殘余應(yīng)力測(cè)定；快速探測(cè)固體、粉末及液體樣品的微量元素成分，測(cè)量貴金屬以及鍍層厚度，進(jìn)行薄膜分析、缺陷分析等。

四、微量元素分析實(shí)驗(yàn)室

•原子發(fā)射光譜儀（AES）

具有多元素同時(shí)檢測(cè)，速度快、選擇性好、檢測(cè)限低、試樣消耗少、靈敏度高、線性范圍寬(4~6個(gè)數(shù)量級(jí))等特點(diǎn)。對(duì)于巖石、礦物等試樣，一般不經(jīng)處理，就能直接對(duì)試樣中的幾十種金屬元素同時(shí)測(cè)定，并快速給出定性、半定量甚至是定量的結(jié)果。一般需樣品量為數(shù)毫克至數(shù)十毫克。對(duì)大部分金屬元素的測(cè)定，靈敏度約為10—9g。適用于地質(zhì)、環(huán)境保護(hù)和鋼鐵合金等試樣的分析，如快速分析出油品中金屬磨粒和污染物微粒的組成元素和含量，為推斷設(shè)備的磨損部位和磨損程度提供依據(jù)。

•原子吸收光譜儀（AAS）

具有靈敏度高、選擇性好、準(zhǔn)確度高、操作簡(jiǎn)便、分析速度快等特點(diǎn)。

1）可進(jìn)行金屬元素和部分非金屬元素定性、定量分析和痕量重金屬元素的定量分析及多種物理參數(shù)的測(cè)定。

2）可進(jìn)行多種有機(jī)、無(wú)機(jī)產(chǎn)品的組成剖析。

•X熒光光譜儀（XRF）

1）無(wú)損、精確、快速分析固體、液體、粉末的精確含量。如Si、P、 S 、Mn、Cr、Mo、Ni、V、Fe、Co、W等。

2）無(wú)損、精確、快速測(cè)量各種塑料、電子元器件、電器、金屬、溶液等物件里面的有毒有害元素。

3）精確、快速測(cè)量各種電鍍層的厚度，進(jìn)行金銀首飾的檢測(cè)、珠寶玉石和文物的鑒定。

五、表面科學(xué)實(shí)驗(yàn)室

•俄歇電子表面能譜（XPS+AES）

1）  可進(jìn)行表面元素成分定性、定量檢測(cè)及元素價(jià)態(tài)分析，表面元素二維和三維分布分析。

2) 可進(jìn)行樣品元素組分沿深度（縱向）變化的檢測(cè)，材料表面污染物分析。

3)可進(jìn)行機(jī)械零件及電子元器件的失效分析，各種鍍膜材料的鍍膜成分定性、定量分析，膜層的結(jié)構(gòu)分析。

•原子力顯微鏡（AFM）

 1)可進(jìn)行微觀形貌、硬度與楊氏模量分布分析；納米級(jí)材料粘彈性,粗糙度,摩擦系數(shù)測(cè)定。

2）可進(jìn)行陶瓷膜表面形貌分析與材料納米尺度表面形貌特征評(píng)定。

3）可進(jìn)行顆粒度解析、VCD涂層評(píng)價(jià)、定向薄膜的摩擦處理過程的評(píng)價(jià)、缺陷分析等。

•掃描隧道顯微鏡（STM）

1）具有原子級(jí)高分辨率, 可以分辨出單個(gè)原子�？稍佻F(xiàn)樣品表面三維形貌,觀察缺陷、表面吸附體形態(tài)與位置。

2）配合掃描隧道譜（STS）可以得到有關(guān)表面電子結(jié)構(gòu)的信息，例如表面不同層次的態(tài)密度、表面電子阱、電荷密度波、表面勢(shì)壘的變化和能隙結(jié)構(gòu)等。

六、熱學(xué)分析實(shí)驗(yàn)室

擁有示差掃描熱量計(jì)（DSC）、差熱分析儀（DTA）、熱重分析儀（TGA）、動(dòng)態(tài)機(jī)械分析儀（DMA）、熱機(jī)械分析儀(TMA)等多種熱分析儀，適用于研究材料和體系的性質(zhì)、成分、結(jié)構(gòu)、相變和化學(xué)反應(yīng)，特別是相變和化學(xué)反應(yīng)的動(dòng)力學(xué)。如測(cè)量材料的熔點(diǎn)、玻璃化轉(zhuǎn)變、晶型轉(zhuǎn)變、液晶轉(zhuǎn)變、晶化溫度和動(dòng)力學(xué)、固化過程和動(dòng)力學(xué)、純度、熱穩(wěn)定性、高分子材料的動(dòng)態(tài)模量、損耗因子和鍵運(yùn)動(dòng)形態(tài)等等。

七、機(jī)械性能測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

•沖擊性能測(cè)試機(jī)

1）可測(cè)定塑膠及電子材料的沖擊韌性σk、應(yīng)力應(yīng)變曲線等，可進(jìn)行材料品質(zhì)、宏觀缺陷、顯微組織等分析。

2）最大負(fù)荷為19KN，溫度變化范圍為-50℃—150 ℃，能測(cè)出百萬(wàn)分之一秒內(nèi)時(shí)間與力的變化。

•拉伸實(shí)驗(yàn)機(jī)

可測(cè)量Cu,Al,鋼鐵，聚合物等各類材料的屈服強(qiáng)度，抗拉（壓）強(qiáng)度，剪切強(qiáng)度，斷面收縮率，屈服點(diǎn)、彈性模量及制定應(yīng)力—應(yīng)變曲線。

•顯微硬度計(jì)

可測(cè)量顯微組織和不同相的硬度，氮化層，滲碳層，脫碳層等及鍍層的硬度分布和厚度。

•納米級(jí)直讀硬度計(jì)

可進(jìn)行電子薄膜、藥膜、各類涂層、MEMS、材料表面及其改性的力學(xué)性能檢測(cè)，它不需要將表層從基體上剝離，可以直接給出材料表層力學(xué)性質(zhì)的空間分布。例如，能檢測(cè)出焊點(diǎn)及其附近材料的力學(xué)性質(zhì)，測(cè)定鍍層的彈性模量及其分布等。

如果您有任何要求或疑問，請(qǐng)直接給我們來(lái)電，我們會(huì)以熱情的態(tài)度為您提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。同時(shí)歡迎您有機(jī)會(huì)來(lái)參觀香港城市大學(xué)研究院（深圳）有限公司。

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